LABOR FÜR PROFILOMETRIE
und Rauheitsmessungen
Mittels optischer Profilometrie kann die Topographie einer Oberfläche berührungslos mit einer vertikalen Auflösung bis in den Nanometerbereich und einer lateralen Auflösung im Bereich von bis zu ~0,2 nm untersucht werden.
2D und 3D Abbildung und Vermessung von Oberflächentopographien
Messung von Rauheitsparameter :
2D-Analysen: ISO 4288 (Ra, Rq, ...)
3D-Analysen: ISO 25178 (Sa, Sq, ...)
Ausmessen von Stufenhöhen, z.B. zur Bestimmung von Schichtdicken
Verschiedene berührungslose und damit zerstörungsfreie Messverfahren zur Wahl:
Konfokale Laser-Scanning-Mikroskopie
Weißlicht-Interferometrie
Fokusvariation
Messung unter Umgebungsbedingungen
Schichtdicken Messungen
Mit dem Digitalen Messprojektor IM -8000 von Keyence messen wir auf
Knopfdruck Laserplatinen für Einzel- oder Serienmessung in höchster Präzession
M...
Das Fluoreszenzmikroskop für den professionellen Anwender
- Das Fluoreszenzmikroskop der OBN-14-Serie basiert auf der gewohnt hohen Qualität und Viel...
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Kompaktes Stand-Alone 3D-Oberflächenmessgerät auf Basis der Weißlichtinterferometrie. Das System ist eine besonders wirtschaftlich Lösung für die 3D-...
Das Messmikroskop VMM 150 bietet präzise Messungen mit einer Vielzahl von Funktionen für die technische Mikroskopie. Es verfügt über wechselbare Mikro...
Die Lichtmikroskopie ist dazu geeignet, Analysefilter hinsichtlich der Partikelbelegung auszuwerten. Die bei der Filtration extrahierten Partikel könn...
MONSTEIN | PROCESSING ist als Fertigungspartner für anspruchsvolles Prozessmanagement, Full-Service und Problemlösungskompetenz in der Schweiz und Eur...
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organische Untersuchungen...
Im Vergleich zu einem Standardmikroskop wird der Größenunterschied deutlich.
Bei der Darstellung auf Monitor, also einem Kamerabild, gibt es keinen Qu...
DE-82166 Gräfelfing
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