Phenom ParticleX TC Desktop REM

Bauteilsauberkeitsanalyse mit einem vielseitigen Desktop-REM, 200’000 x, <10nm Auflösung, EDX Elementanalyse und SED als Optionen Eigenschaften: + Exzellente Lösung für zuversichtliche MATERIALANALYSE, z.B. bei der AUTOMOTIVEN INDUSTRIE + Technische Reinheitsüberprüfung auf Mikrometer-Skala dank EDX Analyse + Beschleunigungsspannungen: Standard: 5 kV, 10 kV und 15 kV (erweiterter Modus: einstellbarer Bereich zwischen 4,8 kV und 20,5 kV) + Vakuumstufen: Niedrig, Mittel, Hoch, + Detektoren: Rückstreuelektronendetektor (Standard), Detektor für energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) (Standard), Sekundärelektronendetektor (Everhart-Thornley-Detektor, optional) + Probengröße: max. 100 mm x 100 mm (bis zu 36 x 12 mm Stiftprobenteller), max. 40 mm (h) + Beispielladezeit: Lichtoptisch <5 s, Elektronenoptisch <60 s Anwendung: + Pharmazeutische Industrie + Pulver Partikelgrössenmessung, Nanopartikel + Metallurgische Analysen + Prozesskontrolle + Qualitätskontrolle + Forschungslabors + Fibermetric für die Analyse von Textilfasern + Asbestanalyse nach VDI 3492 (mit AsbestosScan Software) + Technische Reinheit nach VDA19 / ISO16232 + Additive Fertigung (Qualitätskontrolle) + Tisch-REM, Tisch-Elektronenmikroskop, Tabletop-REM + EDX, EDS